К содержанию
РецензированоRU1991

Локализация неисправных подсхем в электронных устройствах аналогового типа

Шухат Борис Аркадиевич

Диссертации и авторефераты · 1991

Аннотация

Цель работы состоит в разработке методики автоматизированного диагностирования широкого класса неисправностей в электронных устройствах с ограниченным доступом к узлам схемы.

Доказательный фрагмент

«Цель работы состоит в разработке методики автоматизированного диагностирования широкого класса неисправностей в электронных устройствах с ограниченным доступом к узлам схемы.»

Образец извлечения

Демо-превью

Цель работы состоит в разработке методики автоматизированного диагностирования широкого класса неисправностей в электронных устройствах с ограниченным доступом к узлам схемы. Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники

[1]ЭкономикаENРецензированоОткрытый доступ
Yashil iqtisodiyot

УчебникиS.N.XashimovaНомер УДК:331.312.4422026

5