[1]ПедагогикаUZРецензированоОткрытый доступ
MAXSUS KIYIM MATERIALLARINING TERMO-FIZIK PARAMETRLARINI ANIQLOVCHI OMILLAR
Научные статьиM.H.Sayidova, S.U.Pulatova2025
13
РецензированоRU1987
Качество и надежность интегральных микросхем
И.Я.Козирь
Учебная литература · 1987
Аннотация
В пособии приведены сведения об основных понятиях теории и количественных показателях качества и надежности интегральных микросхем: рассмотрены методы контроля качества, расчета и оценки надежности.
Доказательный фрагмент
«В пособии приведены сведения об основных понятиях теории и количественных показателях качества и надежности интегральных микросхем: рассмотрены методы контроля качества, расчета и оценки надежности.»
Образец извлечения
Демо-превьюВ пособии приведены сведения об основных понятиях теории и количественных показателях качества и надежности интегральных микросхем: рассмотрены методы контроля качества, расчета и оценки надежности. Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.
Смежные источники
[2]ПедагогикаRUРецензированоОткрытый доступ
Допустимость доказательств в уголовном процессе: анализ зарубежного опыта
Общество и инновацииKhosiyat MAMATKULOVA2024
[3]ПедагогикаENРецензированоОткрытый доступ
THE IMPORTANCE OF FUZZY SET THEORY IN IMAGE NOISE REMOVAL AND RESTORATION
Журнал универсальных научных исследованийAND RESTORATION, Khatamov Orif Yusupovich2024
5
[4]ПедагогикаRUРецензированоОткрытый доступ
Исследования применения альтернативного вида транспорта приперевозки руды от рудника Зармитан до ГМЗ-4
Магистерские диссертацииЮлдашев Ж.Х2014
5