К содержанию
РецензированоRU2021

Влияние сжимающих и растягивающих напряжений на электронную структуру фосфорена

А.В. Кривошеева · B.Л.Шапошников I. Stich

Научные статьи · 2021

Аннотация

С помощью методов теоретического моделирования проведено исследование нового перспективного полупроводникового материала — фосфорена — и определены возможности изменения величины и характера его межзонных переходов при воздействии на кристаллическую решетку этого материала сжимающих и растягивающих напряжений. Установлено, что в зависимости от величины и направления воздействия напряжений материал может быть как прямозонным, так и непрямозонным полупроводником.

Доказательный фрагмент

«С помощью методов теоретического моделирования проведено исследование нового перспективного полупроводникового материала — фосфорена — и определены возможности изменения величины и характера его межзонных переходов пр…»

Образец извлечения

Демо-превью

С помощью методов теоретического моделирования проведено исследование нового перспективного полупроводникового материала — фосфорена — и определены возможности изменения величины и характера его межзонных переходов пр… Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники