К содержанию
РецензированоRU2022

ИССЛЕДОВАНИЕ РЕЛЬЕФА ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДЫХ РАСТВОРОВ (Si 2 ) 1-x (CdS) x

 Х.М. Мадаминов

Научные статьи · 2022

Аннотация

В статье приведены результаты исследования поверхности монокристаллического эпитаксиального слоя твердого раствора (Si 2 ) 1-x (CdS) x (0≤х≤0.01), выращенного на монокристаллических Si подложках методом жидкофазной эпитаксии, с помощью атомно-силовым микроскопом.

Доказательный фрагмент

«В статье приведены результаты исследования поверхности монокристаллического эпитаксиального слоя твердого раствора (Si 2 ) 1-x (CdS) x (0≤х≤0.01), выращенного на монокристаллических Si подложках методом…»

Образец извлечения

Демо-превью

В статье приведены результаты исследования поверхности монокристаллического эпитаксиального слоя твердого раствора (Si 2 ) 1-x (CdS) x (0≤х≤0.01), выращенного на монокристаллических Si подложках методом… Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники