К содержанию
РецензированоRU2020

Влияние скин-эффекта и активных потерь на интенсивность линий ЭПР в полупроводящих веществах

А.М. Зюзин · А.А. Карпеев · Н.В. Янцен

Научные статьи · 2020

Аннотация

Исследовано влияние скин-эффекта и активных потерь в образцах полупроводящего композита с широким диапазоном значений проводимости на интенсивность линии поглощения ЭПР. Предложен подход,позволяющий получить удовлетворительное соответствие расчетных и экспериментальных результатов.Показано, что в зависимости от проводимости исследуемого вещества, интенсивность линии поглощения,соответствующая единице объема, может в разы уменьшаться с увеличением объема исследуемого образца.

Доказательный фрагмент

«Исследовано влияние скин-эффекта и активных потерь в образцах полупроводящего композита с широким диапазоном значений проводимости на интенсивность линии поглощения ЭПР.»

Образец извлечения

Демо-превью

Исследовано влияние скин-эффекта и активных потерь в образцах полупроводящего композита с широким диапазоном значений проводимости на интенсивность линии поглощения ЭПР. Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники