Исследование структурных дефектов наноразмерных аморфных углеродных пленок методами спектроскопии комбинационного рассеяния света

Аннотация

Данная работа посвящена изучению структурных дефектов аморфных углеродных пленок. В частности, эти пленки используются в качестве защитных покрытий оптических волокон. В настоящее время в связи со стремительным развитием распределенных спектроскопических и акустических датчиков на основе оптоволокна появилась потребность в создании оптических волокон.