К содержанию
CiteXCiteX — научный поиск с источниками
РецензированоRU2006

ЛИНЕЙНАЯ МЕРА МИКРОМЕТРОВОГО И НАНОМЕТРОВОГО ДИАПАЗОНОВ ДЛЯ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ И АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ

Ю.А. НОВИКОВ · Ю.В. ОЗЕРИН

Учебная литература · 2006

Аннотация

История развития науки и техники неразрывно связана с развитием систе- мы, методов и средств измерений. В конце XX и начале XXI века на передний план развития выдвинулись высокие технологии, главными из которых явля- ются микроэлектроника и нанотехнология. Микроэлектроника оперирует с элементами, имеющими минимальные размеры (критические размеры) в сот- ни нанометров

Доказательный фрагмент

«История развития науки и техники неразрывно связана с развитием систе- мы, методов и средств измерений.»

Образец извлечения

Демо-превью

История развития науки и техники неразрывно связана с развитием систе- мы, методов и средств измерений. Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники

[2]ТехникаENРецензированоОткрытый доступ
RESEARCH RESULTS CLEANING GRAIN HARVEST COMBINE HARVESTER

ЖУРНАЛ ТЕХНИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙЭлмурод Сотволдиевич Умаров, Зиёдбек Шавкатович Халилов +12021

5