К содержанию
CiteXCiteX — научный поиск с источниками
РецензированоRU1982

Исследование поверхности вольфрама и тонких слоёв серебра на вольфраме методом вторично-электронной спектроскопии

Смирнов О. М.

Диссертации и авторефераты · 1982

Аннотация

Исследование закономерностей взаимодействия электронов с поверхностью твердого тела является важным направлением в современной (физике. Оно способствует получению новых знаний о поверхностных свойствах твердого тела, которые необходимы при создании новых приборов для электронной и микроэлектронной техники.

Доказательный фрагмент

«Исследование закономерностей взаимодействия электронов с поверхностью твердого тела является важным направлением в современной (физике.»

Образец извлечения

Демо-превью

Исследование закономерностей взаимодействия электронов с поверхностью твердого тела является важным направлением в современной (физике. Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники