К содержанию
РецензированоRU1985

Исследование системы металл-GaAs методами эллипс метрии и Оже-Спектроскопии

Саликбаева Т. Ш.

Диссертации и авторефераты · 1985

Аннотация

Разработка, технологии» детальное изучение процессов,- лежащих в основе производства полупроводниковых приборов, невозможна без хгаотоянного и надежного контроля тонкопленочных систем на всех стадиях их изготовления,

Доказательный фрагмент

«Разработка, технологии» детальное изучение процессов,- лежащих в основе производства полупроводниковых приборов, невозможна без хгаотоянного и надежного контроля тонкопленочных систем на всех стадиях их изготовления,»

Образец извлечения

Демо-превью

Разработка, технологии» детальное изучение процессов,- лежащих в основе производства полупроводниковых приборов, невозможна без хгаотоянного и надежного контроля тонкопленочных систем на всех стадиях их изготовления, Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники

[2]ТехникаENРецензированоОткрытый доступ
RESEARCH RESULTS CLEANING GRAIN HARVEST COMBINE HARVESTER

ЖУРНАЛ ТЕХНИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙЭлмурод Сотволдиевич Умаров, Зиёдбек Шавкатович Халилов +12021

5