Наука и технология в современном миреМирзаева Ширин Нодировна, Тахиров Чингиз Аъзамович +22026
Исследование системы металл-GaAs методами эллипс метрии и Оже-Спектроскопии
Саликбаева Т. Ш.
Диссертации и авторефераты · 1985
Аннотация
Разработка, технологии» детальное изучение процессов,- лежащих в основе производства полупроводниковых приборов, невозможна без хгаотоянного и надежного контроля тонкопленочных систем на всех стадиях их изготовления,
Доказательный фрагмент
«Разработка, технологии» детальное изучение процессов,- лежащих в основе производства полупроводниковых приборов, невозможна без хгаотоянного и надежного контроля тонкопленочных систем на всех стадиях их изготовления,»
Образец извлечения
Демо-превьюРазработка, технологии» детальное изучение процессов,- лежащих в основе производства полупроводниковых приборов, невозможна без хгаотоянного и надежного контроля тонкопленочных систем на всех стадиях их изготовления, Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.
Смежные источники
ЖУРНАЛ ТЕХНИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙЭлмурод Сотволдиевич Умаров, Зиёдбек Шавкатович Халилов +12021
The American Journal of Applied sciencesUsmonova Manzura Isakovna, Umarova Nasiba Erkinovna +22021
The American Journal of Applied sciencesHydrogeological Conditions, J.X. Djumanov +22021