К содержанию
РецензированоRU1998

Исследование электрофизических свойств Si-SiO2 систем и кинетики начальной стадии образования пленок диоксида кремния

Сафаров А. С.

Диссертации и авторефераты · 1998

Аннотация

Анализ научных публикаций и патентных исследований за последние тридцать лет в Республике Узбекистан и в семи ведущих странах, показал, что изучение физических и физико-химических свойств поверхностей чистого и окисленного кремния является одной из актуальных научных проблем.

Доказательный фрагмент

«Анализ научных публикаций и патентных исследований за последние тридцать лет в Республике Узбекистан и в семи ведущих странах, показал, что изучение физических и физико-химических свойств поверхностей чистого и окисле…»

Образец извлечения

Демо-превью

Анализ научных публикаций и патентных исследований за последние тридцать лет в Республике Узбекистан и в семи ведущих странах, показал, что изучение физических и физико-химических свойств поверхностей чистого и окисле… Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники