К содержанию
CiteXCiteX — научный поиск с источниками
РецензированоRU2018

Структура и релаксация поляризованного состояния в тонких пленках Ba 0.5 Sr 0.5 Nb 2 O 6 на подложке (001) Si

А.В. Павленко · Д.В.Стрюков · В.М.Мухортов · С.В.Бирюков

Научные статьи · 2018

Аннотация

Представлены результаты исследования структуры и диэлектрических характеристик тонких пленок ниобата бария-стронция, осажденных на монокристаллические подложки кремния без каких-либо буферных слоев.Установлено, что гетероструктуры обладают преимущественным направлением оси с перпендикулярно подложки, а оси а и b стохастически развернуты в плоскости положки. Изучена релаксация поляризации в подобных гетероструктурах.

Доказательный фрагмент

«Представлены результаты исследования структуры и диэлектрических характеристик тонких пленок ниобата бария-стронция, осажденных на монокристаллические подложки кремния без каких-либо буферных слоев.Установлено, что ге…»

Образец извлечения

Демо-превью

Представлены результаты исследования структуры и диэлектрических характеристик тонких пленок ниобата бария-стронция, осажденных на монокристаллические подложки кремния без каких-либо буферных слоев.Установлено, что ге… Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники