К содержанию
РецензированоRU2012

Разработка универсального прибора для измерения параметров полупроводниковых материалов на основе четырехзондового метода

Зарипов Н. · Тачилин С.

Научные статьи · 2012

Аннотация

В статье рассматривается разработанный универсальный прибор для измерения параметров полупроводниковых материалов на основечетырехзондового метода

Доказательный фрагмент

«В статье рассматривается разработанный универсальный прибор для измерения параметров полупроводниковых материалов на основечетырехзондового метода»

Образец извлечения

Демо-превью

В статье рассматривается разработанный универсальный прибор для измерения параметров полупроводниковых материалов на основечетырехзондового метода Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники