К содержанию
РецензированоRU2017

Выбор методов измерения времени релаксации неосновных носителей заряда в кремнии

А.Б. Утепбаев · Б.Г. Атабаев

Научные статьи · 2017

Аннотация

В статье рассматриваются методы измерения времени релаксации неосновных носителей в кремнии посредством определения их диффузионной длины пробега и времени жизни для тонких приповерхностных слоев кристаллов, а также нахождения критериев применимости методик оценки параметров релаксации неосновных носителей в кремнии.

Доказательный фрагмент

«В статье рассматриваются методы измерения времени релаксации неосновных носителей в кремнии посредством определения их диффузионной длины пробега и времени жизни для тонких приповерхностных слоев кристаллов, а также н…»

Образец извлечения

Демо-превью

В статье рассматриваются методы измерения времени релаксации неосновных носителей в кремнии посредством определения их диффузионной длины пробега и времени жизни для тонких приповерхностных слоев кристаллов, а также н… Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники