Исследование шероховатости бумаги из вторичного сырья методом атомно-силовой микроскопии

Аннотация

Рассмотрены вопросы высокоточного контроля параметров выпускаемой бумажной продукции, в составе которой вторичное сырье. Предложен метод атомно-силовой микроскопии для исследования шероховатости бумаги. При использовании сканирующего зондового микроскопа Solver HV выполнена визуализация полученных топографических изображений поверхности каждого вида исследуемой бумаги, определена средняя шероховатость перепадов высот для каждого типа бумаги. Результаты сопоставлены с требованиями государственного стандарта и международными рекомендациями. Показано, что применение сканирующей зондовой микроскопии позволяет проводить экспресс-контроль параметров целлюлозной бумажной продукции при ее производстве. При экспресс-анализе шероховатости методом атомно-силовой микроскопии появляется возможность целе направленного управления технологическим процессом и создания новых видов бумажной продукции с заданными свойствами, обеспечивающими графическую точность печати без потерь мелких деталей изображения.