К содержанию
РецензированоRU1988

Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем

А.А.Чернышев

Монографии · 1988

Аннотация

В книге на основе современных физических представлений рассмотрены вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Значительное внимание удалено влиянию различных технологических факторов и условий применения на надежность.

Доказательный фрагмент

«В книге на основе современных физических представлений рассмотрены вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем.»

Образец извлечения

Демо-превью

В книге на основе современных физических представлений рассмотрены вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники