Наука и технология в современном миреМирзаева Ширин Нодировна, Тахиров Чингиз Аъзамович +22026
Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
А.А.Чернышев
Монографии · 1988
Аннотация
В книге на основе современных физических представлений рассмотрены вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Значительное внимание удалено влиянию различных технологических факторов и условий применения на надежность.
Доказательный фрагмент
«В книге на основе современных физических представлений рассмотрены вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем.»
Образец извлечения
Демо-превьюВ книге на основе современных физических представлений рассмотрены вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.
Смежные источники
Каталог авторефератовЎРОҚОВ АСЛИДИН ХУШВАҚТОВИЧ, Содиқов Иброхим Салихович +22009
The American Journal of Engineering and TechnologyO CLC -, Coefficient Of A Frequency Inverter +22020
in LibraryЭКАНОМИКА И ОРГАНИЗАЦИЯ СТРОИТЕЛЬСТВО, QURILISHDA TAVAKKALCHILIKNI BOSHQARISHNING BIZNESDAGI AHAMIYATI2021