К содержанию
CiteXCiteX — научный поиск с источниками
РецензированоRU2018

Влияние радиационного облучения на электрофизические свой Si<Ni> И Si<Co>ства образцов

C.З.Зайнабидинов · Н.А.Тургунов

Научные статьи · 2018

Аннотация

Электрик ва электрон – зонд микроскопия усуллари билан диффузия ёрдамида легирланган Si ва Si намуналарига нейтрон нурланишларининг таъсирлари тадқиқ этилди. Никель ва кобальт киришма атомлари микробирикмаларининг нурланишдан олдинги ва кейинги ҳолатлари ўрганилди. Киришмавий микробирикмаларнинг шакли ва ўлчамларига қараб нурланишнинг маълум бир қийматларида емирилиши аниқланди.

Доказательный фрагмент

«Электрик ва электрон – зонд микроскопия усуллари билан диффузия ёрдамида легирланган Si ва Si намуналарига нейтрон нурланишларининг таъсирлари тадқиқ этилди.»

Образец извлечения

Демо-превью

Электрик ва электрон – зонд микроскопия усуллари билан диффузия ёрдамида легирланган Si ва Si намуналарига нейтрон нурланишларининг таъсирлари тадқиқ этилди. Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники