К содержанию
РецензированоRU2020

Теоретическое объяснение эффекта уменьшения энергии плазмонов Si(111) при имплантации ионов с большой дозой

А. С. Рысбаевa · Ж. Б. Хужаниёзов · М. Т. Нормурадов · А. К. Ташатов · Б. Д. Игамов · С. Т. Абраеваa

Научные статьи · 2020

Аннотация

В работе приводится теоретическое объяснение экспериментально обнаруженного эффекта уменьшения энергии возбуждения поверхностных и объемных плазменных колебаний валентных электронов кремния Si(111) при имплантации ионов Ва и щелочных элементов с большой дозой D >> 1016 см–2. Наблюдаемый эффект уменьшения энергии плазмонов Si(111) объясняется на основе двухжидкостной модели электронного газа сильным затуханием колебаний валентных электронов вследствие разупорядочения кристаллической структуры Si(111) вплоть до полной аморфизации

Доказательный фрагмент

«В работе приводится теоретическое объяснение экспериментально обнаруженного эффекта уменьшения энергии возбуждения поверхностных и объемных плазменных колебаний валентных электронов кремния Si(111) при имплантации ион…»

Образец извлечения

Демо-превью

В работе приводится теоретическое объяснение экспериментально обнаруженного эффекта уменьшения энергии возбуждения поверхностных и объемных плазменных колебаний валентных электронов кремния Si(111) при имплантации ион… Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники