К содержанию
CiteXCiteX — научный поиск с источниками
РецензированоRU2001

Физические основы микроэлектронных приборов на основе кремнийдиоксид кремния

А.С .Сафаров

Учебная литература · 2001

Аннотация

В пособии изучаются вопросы теория точечных дефектов в непроводящих стеклообразных двуокисях кремния. Значительная часть работы посвящена вычислению наблюдаемых свойств дефектов и сравнению теории с экспериментом.

Доказательный фрагмент

«В пособии изучаются вопросы теория точечных дефектов в непроводящих стеклообразных двуокисях кремния.»

Образец извлечения

Демо-превью

В пособии изучаются вопросы теория точечных дефектов в непроводящих стеклообразных двуокисях кремния. Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Просмотров
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники