Исследование радиационного дефектообразования в монокристаллах твёрдых растворов Si1-xGex (0,001<х<0,20) при облучении нейронами, электронами и рентгеновскими квантами

В настоящее время Sij.xGex твёрдые растворы стали получать весьма широкое распространение в качестве материалов для изготовления радиационно-стойких, малошумящих, быстродействующих СВЧ - приборов и интегральных схем. Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.