К содержанию
CiteXCiteX — научный поиск с источниками
РецензированоRU1987

Методы измерения параметров полупроводниковых материалов.

Павлов Л.П.

Учебная литература · 1987

Аннотация

Целью курса «Методы измерения параметров полупроводниковых материалов» является изучение экспериментальных методов измерения параметров, которые являются основными для производственного контроля качества полупроводниковых материалов и структур и составляют основу многих методов исследования в области физики полупроводников и полупроводниковых приборов.В основу учебника положен курс лекций, читаемый автором для студентов специальности «Полупроводниковые и микроэлектронные приборы»

Доказательный фрагмент

«Целью курса «Методы измерения параметров полупроводниковых материалов» является изучение экспериментальных методов измерения параметров, которые являются основными для производственного контроля качества полупроводник…»

Образец извлечения

Демо-превью

Целью курса «Методы измерения параметров полупроводниковых материалов» является изучение экспериментальных методов измерения параметров, которые являются основными для производственного контроля качества полупроводник… Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Просмотров
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники