К содержанию
РецензированоRU1988

МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОЛУ- ПРОВОДНИКОВ

Ю. В. ВОРОБЬЕВ · В.Н.ДОБРОВОЛЬСКИЙ · В.И.СТРИХА

Учебная литература · 1988

Аннотация

В учебном пособии рассмотрены методы определения основных параметров полупроводниковых материалов (удельно- го сопротивления, концентрации и подвижности носителей заряда, термических, термоэлектрических и рекомбинационных параметров, а также параметров, характеризующих поверхность полупроводника). Изложены физические принципы методик исследования полупроводников, приведены схемы экспериментальных установок, проанализированы условия применимости различных методик и основные источники их погрешностей. Особое внимание уделено проблемам использования ЭВМ в исследованиях полупроводников. Для студентов физический и радиофизических специальностей вузов.

Доказательный фрагмент

«В учебном пособии рассмотрены методы определения основных параметров полупроводниковых материалов (удельно- го сопротивления, концентрации и подвижности носителей заряда, термических, термоэлектрических и рекомбинаци…»

Образец извлечения

Демо-превью

В учебном пособии рассмотрены методы определения основных параметров полупроводниковых материалов (удельно- го сопротивления, концентрации и подвижности носителей заряда, термических, термоэлектрических и рекомбинаци… Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники