К содержанию
CiteXCiteX — научный поиск с источниками
РецензированоRU1979

Методы анализа поверхностей

Без автора

Учебная литература · 1979

Аннотация

Книга написана коллективом специалистов США и ФРГ и посвящена методам анализа поверхности твердого тела Дается общая классификация этих методов и подробно излагаются такие методы, как спектрометрия рассеяния медленных ионов, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электронная оже-спектроскопия, вторично-ионная масс-спектрометрия и полевая масс-спектрометрия.

Доказательный фрагмент

«Книга написана коллективом специалистов США и ФРГ и посвящена методам анализа поверхности твердого тела Дается общая классификация этих методов и подробно излагаются такие методы, как спектрометрия рассеяния медленных…»

Образец извлечения

Демо-превью

Книга написана коллективом специалистов США и ФРГ и посвящена методам анализа поверхности твердого тела Дается общая классификация этих методов и подробно излагаются такие методы, как спектрометрия рассеяния медленных… Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Просмотров
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники