Современные методы исследования поверхности твердых тел: Фотоэлектронная спектроскопия и дифракция, СТМ-микроскопия

Аннотация

В настоящем разделе дан обзор современных методов исследования поверхности твердых тел. В качестве примера рассмотрены ключевые методы, представляющие три условных направления анализа поверхности; спектроскопию (РФЭС, ЭОС), дифракцию (РФД, ДМЭ) и микроскопию (СТМ, АСМ). Совместно данные методы позволяют изучать химический состав и структуру поверхности, исследовать электронную структуру твердых тел, получать изображения поверхности с атомарным разрешением, манипулировать атомами на поверхности и изучать процессы, протекающие на поверхности.