К содержанию
CiteXCiteX — научный поиск с источниками
РецензированоRU2006

Электрические методы измерения параметров полупроводниковых структур.

Власов С.И.

Учебная литература · 2006

Аннотация

В данном пособии приведены практические работы по физике полупроводников полупроводниковых структур. Целью настоящего пособия является закрепление теоретического материала лекционных курсов и подробное ознакомление наиболее распространенными методами и способами измерений параметров полупроводниковых материалов и приборных структур.

Доказательный фрагмент

«В данном пособии приведены практические работы по физике полупроводников полупроводниковых структур.»

Образец извлечения

Демо-превью

В данном пособии приведены практические работы по физике полупроводников полупроводниковых структур. Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники