К содержанию
CiteXCiteX — научный поиск с источниками
РецензированоRU1982

Измерение параметров цифровых интегральных микросхем

Д. Ю. Эйдукас · Б. В. Орлов · Л. М. Попов

Учебная литература · 1982

Аннотация

Обобщен опыт разработки методов и средств измерения в контроля параметров цифровых в интегральных микросхем (НС). Рассматриваются различные классы цифровых ИС н их характеристики. Излагаются методы измерения статических и динамических параметров, функционального контроля цифровых ИС, принципы построения средств измерения и контроля.

Доказательный фрагмент

«Обобщен опыт разработки методов и средств измерения в контроля параметров цифровых в интегральных микросхем (НС).»

Образец извлечения

Демо-превью

Обобщен опыт разработки методов и средств измерения в контроля параметров цифровых в интегральных микросхем (НС). Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Просмотров
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники