К содержанию
РецензированоRU1990

Разработка подсистемы анализа дефектов и отказов элементов в составе САПР ДОС

КЕШЕК ЭДВАРД ВИКТОРОВИЧ

Диссертации и авторефераты · 1990

Аннотация

Надежность микросхем в значительной степени закладывается на этапах их проектирования и отладки технологии изготовления. Но, как показывает практика, полностью исключить ошибки на стадиях проектирования и освоения производства ШС не всегда удается.

Доказательный фрагмент

«Надежность микросхем в значительной степени закладывается на этапах их проектирования и отладки технологии изготовления.»

Образец извлечения

Демо-превью

Надежность микросхем в значительной степени закладывается на этапах их проектирования и отладки технологии изготовления. Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Просмотров
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники