Наука и технология в современном миреМирзаева Ширин Нодировна, Тахиров Чингиз Аъзамович +22026
Разработка подсистемы анализа дефектов и отказов элементов в составе САПР ДОС
КЕШЕК ЭДВАРД ВИКТОРОВИЧ
Диссертации и авторефераты · 1990
Аннотация
Надежность микросхем в значительной степени закладывается на этапах их проектирования и отладки технологии изготовления. Но, как показывает практика, полностью исключить ошибки на стадиях проектирования и освоения производства ШС не всегда удается.
Доказательный фрагмент
«Надежность микросхем в значительной степени закладывается на этапах их проектирования и отладки технологии изготовления.»
Образец извлечения
Демо-превьюНадежность микросхем в значительной степени закладывается на этапах их проектирования и отладки технологии изготовления. Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.
Смежные источники
Магистерские диссертацииРахмонов Сардорбек Рахимжон ўғли2016
in LibraryЭКАНОМИКА И ОРГАНИЗАЦИЯ СТРОИТЕЛЬСТВО, QURILISHDA TAVAKKALCHILIKNI BOSHQARISHNING BIZNESDAGI AHAMIYATI2021
Медицина и инновацииМ Сабиров, О Скосырева +12021