К содержанию
CiteXCiteX — научный поиск с источниками
РецензированоRU1950

Контактный метод измерения микрогеометрии поверхности

П. И. Буловский

Учебная литература · 1950

Аннотация

в книге изложено теоретическое обоснование контактного метода измерения микрогеометрии поверхности, разработана теория подвесов и дан подробный анализ конструкций их. Разобраны принципиальные особенности конструкций различных контактных профилографов-профилометров. описан ряд оптических профилографов, разработанных автором, приведены методика и результаты их испытаний.

Доказательный фрагмент

«в книге изложено теоретическое обоснование контактного метода измерения микрогеометрии поверхности, разработана теория подвесов и дан подробный анализ конструкций их.»

Образец извлечения

Демо-превью

в книге изложено теоретическое обоснование контактного метода измерения микрогеометрии поверхности, разработана теория подвесов и дан подробный анализ конструкций их. Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Просмотров
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники