К содержанию
РецензированоRU2026

ИСПОЛЬЗОВАНИЕ МЕТОДА ПЕРЕКЛЮЧЕНИЯ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ВЫСОКОЧАСТОТНЫХ ПЕРЕКЛЮЧАЮЩИХСЯ ДИОДАХ НА ОСНОВЕ SIC

А.Б.Утепбаев

Научные статьи · 2026

Аннотация

ИСПОЛЬЗОВАНИЕ МЕТОДА ПЕРЕКЛЮЧЕНИЯ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ВЫСОКОЧАСТОТНЫХ ПЕРЕКЛЮЧАЮЩИХСЯ ДИОДАХ НА ОСНОВЕ SIC

Доказательный фрагмент

«ИСПОЛЬЗОВАНИЕ МЕТОДА ПЕРЕКЛЮЧЕНИЯ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ВЫСОКОЧАСТОТНЫХ ПЕРЕКЛЮЧАЮЩИХСЯ ДИОДАХ НА ОСНОВЕ SIC»

Образец извлечения

Демо-превью

ИСПОЛЬЗОВАНИЕ МЕТОДА ПЕРЕКЛЮЧЕНИЯ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ВЫСОКОЧАСТОТНЫХ ПЕРЕКЛЮЧАЮЩИХСЯ ДИОДАХ НА ОСНОВЕ SIC Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан
Цитирований
0
Просмотров
0
Тип
Журнал
Страна
Узбекистан
Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники