РецензированоRU2012

Математическое моделирование определение плотности поверхностних состояний на границе раздела полупроводник-диэлектрик

Гафур Гулямов

Презентации · 2012

Аннотация

Доказательный фрагмент

«Математическое моделирование определение плотности поверхностних состояний на границе раздела полупроводник-диэлектрик»

Образец извлечения

Демо-превью

Математическое моделирование определение плотности поверхностних состояний на границе раздела полупроводник-диэлектрик Полный текст публикации CiteX не хранит — доступ к первоисточнику открывается по DOI согласно лицензии издателя и выбранному плану.

DOI не указан

Цитирований: 0
Просмотров: 0
Тип: Журнал
Страна: Узбекистан

Спросить CiteX об этой работе

Смежные источники

[1]МедицинаRUРецензированоОткрытый доступ

Коронавирус ассоциированная нефропатия: современный взгляд на проблему

Медицина и инновацииМ Сабиров, О Скосырева +12021

doi.org/10.34920/min.2021-2.6-8

[2]EN

Audit test article

лупа2026

[3]ПедагогикаUZРецензированоОткрытый доступ

MAXSUS KIYIM MATERIALLARINING TERMO-FIZIK PARAMETRLARINI ANIQLOVCHI OMILLAR

Научные статьиM.H.Sayidova, S.U.Pulatova2025

[4]ЮриспруденцияENРецензированоОткрытый доступ

THE CONCEPT AND SOCIAL DANGER OF CRIMES RELATED TO THE ILLEGAL HANDLING OF POTENT OR TOXIC SUBSTANCES

ЖУРНАЛ ПРАВОВЫХ ИССЛЕДОВАНИЙСуванов Сардор Бахадирович2026

131